阻(zu)抗分析儀是(shi)(shi)一種能(neng)夠測(ce)量復數(shu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)抗(kang)隨頻率(lv)變化的儀器。它的原理是(shi)(shi)通過相敏檢測(ce)，同時測(ce)量器件在掃(sao)頻測(ce)試過程(cheng)中(zhong)的電(dian)(dian)流和電(dian)(dian)壓(ya)。阻(zu)(zu)抗(kang)分析(xi)儀的主要(yao)參(can)數(shu)分別是(shi)(shi)頻率(lv)范(fan)圍，阻(zu)(zu)抗(kang)范(fan)圍，阻(zu)(zu)抗(kang)幅值的精度(du)和相位精度(du)。更進一步的還(huan)包括測(ce)量速度(du)，以及在測(ce)試中(zhong)施加電(dian)(dian)壓(ya)或者電(dian)(dian)流偏置(zhi)的功能(neng)。
阻(zu)抗(kang)分析儀測得的(de)阻(zu)抗包含(han)阻(zu)抗幅值(zhi)，實部，虛部，以(yi)及(ji)由電(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)流造成的(de)相(xiang)位（差(cha)）。根(gen)據等效電(dian)(dian)(dian)路(lu)模型，一些阻(zu)抗參數包括(kuo)電(dian)(dian)(dian)導(dao)，電(dian)(dian)(dian)感和電(dian)(dian)(dian)容(rong)，即可被輕松(song)的(de)計算并顯示出來。
阻(zu)抗(kang)分析儀一般能夠(gou)提供高(gao)精(jing)度(du)的阻(zu)抗(kang)測量，比如0.05%的基本精(jing)度(du)，從μHz到GHz的頻(pin)率范圍，從μΩ 到 TΩ的幅(fu)值范圍, 同時(shi)還有10 mdeg 的相位精(jing)度(du)。
; 與(yu)阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)(xi)儀相比，LCR測試(shi)儀也(ye)提供(gong)了阻(zu)抗(kang)測量(liang)的(de)功能。一般來說，它的(de)精度比較(jiao)接近阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)(xi)儀，但是頻(pin)率范圍較(jiao)低。同時，LCR測試(shi)儀只能測量(liang)固定頻(pin)率下的(de)阻(zu)抗(kang)，不(bu)能掃頻(pin)，也(ye)不(bu)能圖形化顯示(shi)測量(liang)結果。