介電(dian)常(chang)數測試儀介質損(sun)(sun)耗和介電常數(shu)是各種(zhong)電瓷(ci)、裝置(zhi)瓷(ci)、電容器(qi)等陶瓷(ci)，通(tong)過測(ce)定介質損(sun)(sun)耗角正切tanδ及介電常數(shu)（ε），可進一步(bu)了解影響(xiang)介質損(sun)(sun)耗和介電常數(shu)的各種(zhong)因素(su)，為(wei)提高材料的性能提供依(yi)據(ju)。
1.雙擊LCQ_DAT_GET.EXE文件(jian),打開數(shu)據采集(ji)軟件(jian),注意不要被防(fang)火墻關(guan)閉加載的組件(jian).
2.首(shou)先(xian)點擊Power off按(an)鈕，按(an)鈕中(zhong)(zhong)字母變為Power on,同時界面中(zhong)(zhong)間的一條(tiao)黑色條(tiao)變為為紅色時，開始(shi)正常工作。選擇串(chuan)(chuan)口(kou)號(hao)(hao)，根(gen)據(ju)設(she)備管理器里(li)的端口(kou)根(gen)據(ju)括號(hao)(hao)里(li)的COM號(hao)(hao)來選擇對應的串(chuan)(chuan)口(kou)。
3.點擊(ji)TEST LQ按鍵,設備會(hui)自(zi)動掃頻測試元器件(jian)的電感量,諧振頻率和Q值
4.數據(ju)的(de)保(bao)存(cun)：點擊“保(bao)存(cun)數據(ju)“按鍵 ，將把所測數據(ju)保(bao)存(cun)在(zai)(zai)RFID_SAVE.txt文(wen)件(jian)中.可(ke)在(zai)(zai)右下角方框內輸(shu)入保(bao)存(cun)文(wen)件(jian)的(de)目(mu)錄(lu),比(bi)如:d:\Qtest\ .如果(guo)不設置目(mu)錄(lu),則文(wen)件(jian)保(bao)存(cun)在(zai)(zai)與LCQ_DAT_GET.EXE軟件(jian)同一目(mu)錄(lu)下.
5.如果沒有(you)USB驅動(dong),請(qing)安裝CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.If you do not have a USB driver, install CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.