飽(bao)(bao)和(he)(he)(he)電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試儀是電(dian)(dian)氣(qi)行業(ye)常見的(de)一種(zhong)測(ce)試儀器，用(yong)(yong)于測(ce)試電(dian)(dian)氣(qi)設(she)(she)備的(de)飽(bao)(bao)和(he)(he)(he)電(dian)(dian)流(liu)。飽(bao)(bao)和(he)(he)(he)電(dian)(dian)流(liu)是指在(zai)(zai)特定(ding)的(de)磁通密度下，電(dian)(dian)氣(qi)設(she)(she)備所(suo)能承受(shou)的(de)較大電(dian)(dian)流(liu)。飽(bao)(bao)和(he)(he)(he)電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試儀通過測(ce)量(liang)電(dian)(dian)氣(qi)設(she)(she)備在(zai)(zai)不同磁通密度下的(de)電(dian)(dian)流(liu)，來確(que)定(ding)該設(she)(she)備的(de)飽(bao)(bao)和(he)(he)(he)電(dian)(dian)流(liu)值。本文將(jiang)詳細介紹(shao)飽(bao)(bao)和(he)(he)(he)電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試儀的(de)原理、使用(yong)(yong)方法以(yi)及(ji)相(xiang)關應用(yong)(yong)。
飽和電(dian)流測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)(de)原理是利用法拉(la)第電(dian)磁(ci)(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)定(ding)律(lv)和安培(pei)定(ding)律(lv)。當測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)(de)探(tan)頭接觸電(dian)氣設(she)備時，測(ce)試(shi)儀(yi)中的(de)(de)電(dian)路會(hui)產生感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)(shi)。根(gen)據法拉(la)第電(dian)磁(ci)(ci)感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)定(ding)律(lv)，感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)(shi)的(de)(de)大(da)小與(yu)磁(ci)(ci)通(tong)變化(hua)的(de)(de)速率成正比(bi)。因此，當電(dian)氣設(she)備的(de)(de)磁(ci)(ci)通(tong)密度改變時，感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)(shi)也會(hui)隨之改變。測(ce)試(shi)儀(yi)通(tong)過測(ce)量感(gan)(gan)(gan)應(ying)(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)(shi)，就能(neng)確定(ding)電(dian)氣設(she)備的(de)(de)飽和電(dian)流值。
飽和電(dian)流(liu)(liu)測(ce)(ce)試儀的(de)(de)(de)使(shi)用方法比(bi)較簡單(dan)，通常分(fen)為以下幾個步驟。首先，將(jiang)測(ce)(ce)試儀的(de)(de)(de)探(tan)頭接觸到待測(ce)(ce)電(dian)氣(qi)設備(bei)的(de)(de)(de)繞組上(shang)。然后(hou)，逐漸(jian)增加電(dian)氣(qi)設備(bei)的(de)(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)，同(tong)時記錄電(dian)氣(qi)設備(bei)的(de)(de)(de)磁通密度和測(ce)(ce)試儀的(de)(de)(de)感(gan)應(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)。當測(ce)(ce)試儀的(de)(de)(de)感(gan)應(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)達到一個穩定值(zhi)時，就能(neng)確定電(dian)氣(qi)設備(bei)的(de)(de)(de)飽和電(dian)流(liu)(liu)值(zhi)了。