WK6500B系列穩科精密介電(dian)常數(shu)測試儀的相關介紹
1J6505B 20Hz~5MHz
1J6510B 20Hz~10MHz
1J6515B 20Hz~15MHz
1J6520B 20Hz~20MHz
1J6530B 20Hz~30MHz
1J6550B 20Hz~50MHz
1J65120B 20Hz~120MHz
●產品特色
1.簡易的TFT觸屏操作，10分鐘(zhong)內輕易上手
2.電介(jie)質、壓電片及石英晶體測試解決方案
3.30 ms超高速(su)測(ce)試速(su)度(du)
4.等效Rdc可(ke)高度(du)精準四(si)線式測試，量測到0.01mΩ
5.0.05%基本**度
6.可(ke)內建0-100mA
+/- 40V，外加(jia)可(ke)至60A DC Bias
7.可將測試波形(xing)儲存(cun)成CSV格式，放(fang)大、縮小(xiao)及(ji)MARKER功能(neng)
8.20Hz~120MHz，七(qi)種機型(xing)，可隨(sui)時升級(ji)
，*高升級(ji)到120MHz
9.直覺的用戶操作接口(kou)，USB、LAN、GPIB及HANDLER
10.可使用(yong)鼠標及(ji)(ji)鍵盤操控，也可外(wai)接打印機及(ji)(ji)使用(yong)USB接口儲存(cun)數據
11.具等效電路仿(fang)真功(gong)能，內(nei)建(jian)同(tong)頻率LCR Meter一(yi)臺
準確快速的進(jin)行元件(jian)測試(shi),±0.05%基本**度。
精準和(he)多功(gong)能性使(shi)WK6500系列成為各種不同類型(xing)的(de)(de)工作和(he)應用程式(shi)的(de)(de)理想選擇。使(shi)用者包括被動元(yuan)件設(she)計(ji)師，電介(jie)體、絕緣體的(de)(de)設(she)計(ji)測試人員，及(ji)生產線(xian)的(de)(de)測試人員。
工程師需要在(zai)高(gao)頻率的狀況(kuang)下以極高(gao)的精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀(yi)成(cheng)為(wei)您準確易用的理想測試工具。
●測(ce)試參數(shu)
電(dian)(dian)(dian)容(C),電(dian)(dian)(dian)感(L),電(dian)(dian)(dian)阻(R),電(dian)(dian)(dian)導(dao)(dao)(dao)(G),電(dian)(dian)(dian)納(B),電(dian)(dian)(dian)抗(X),損(sun)(sun)耗(hao)(hao)因數(D),品質因數(Q),阻抗(Z),導(dao)(dao)(dao)納(Y),相(xiang)(xiang)位角(θ)、介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數（ε′ ??相(xiang)(xiang)對介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數實部(bu)、ε′′r相(xiang)(xiang)對介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數虛部(bu)、Dε相(xiang)(xiang)對介電(dian)(dian)(dian)損(sun)(sun)耗(hao)(hao)）、磁導(dao)(dao)(dao)率（μ ′ ??相(xiang)(xiang)對磁導(dao)(dao)(dao)率實部(bu)、μ′′r相(xiang)(xiang)對磁導(dao)(dao)(dao)率虛部(bu)、Dμ相(xiang)(xiang)對磁導(dao)(dao)(dao)率損(sun)(sun)耗(hao)(hao)）
●高精度量測
電容C,電感L及阻抗Z基(ji)本**度為(wei)±0.05%。損(sun)耗因(yin)數(shu)D**度為(wei)±0.0005及品質因(yin)數(shu)Q**度為(wei)±0.05%。
●元件(jian)圖形(xing)掃描(miao)
WK6500B系列精密(mi)阻(zu)抗分(fen)析(xi)(xi)儀不僅提供(gong)高(gao)頻率，高(gao)精度的(de)量(liang)測。該(gai)設備還是一個包含豐(feng)富(fu)特性的(de)元件分(fen)析(xi)(xi)儀。
曲(qu)線掃(sao)描可依據頻(pin)率、電壓值和直(zhi)流偏(pian)流源同時(shi)在清晰度高的大(da)型彩色屏(ping)幕上顯示(shi)任意兩(liang)種參數的曲(qu)線。顯示(shi)格式包括串(chuan)聯或并聯等效(xiao)電路(lu)。
單(dan)測某一頻率(lv)時(shi)可以(yi)從曲線(xian)掃(sao)描轉換成標準LCR表(biao)讀值模式。
●可變的(de)輸(shu)出和偏(pian)壓源(yuan)
交流輸出可選(xuan)高達1V或20mA，實現在真實操作(zuo)環(huan)境中來(lai)評(ping)估元件(jian)。可變偏壓(ya)直流源(yuan)可提供(gong)達100mA的(de)電流.
●外部控制
在(zai)品管或制作檔(dang)譜的過(guo)程中可通(tong)過(guo)GPIB介(jie)面來控(kong)制儀器和收(shou)取讀值.
網(wang)端(duan)介面也具有(you)同樣的控制(zhi)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)和傳輸(shu)資料的功能 – 使(shi)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)能適(shi)應許(xu)多不同的測試環(huan)境.
●多選(xuan)擇的介面
VGA介面可連(lian)接(jie)到PC顯示器或投(tou)影機,這種功能為生(sheng)產環境或教學(xue)培訓都提供(gong)(gong)無(wu)法(fa)衡量的價值(zhi).本機還可通過外接(jie)鍵盤和(he)滑鼠來(lai)操控,任何(he)PS2或USB鍵盤和(he)滑鼠都能簡單的接(jie)插(cha)到系統中,提供(gong)(gong)控制和(he)操作儀(yi)器的另一種可行方(fang)式.
●資料(liao)儲(chu)存(cun)和(he)提取
所有的測試結果(guo)及設制都可以通過網路介面或USB閃盤來(lai)儲存.
●分(fen)類處理介面
Bin Handler為可選設制,通過25相D型接(jie)頭提供獨立(24V)和非獨立(5V)的信號.
●印(yin)表機(ji)輸出
測試結果可通過幾種不同的途經列(lie)印出,其中(zhong)包括直接(jie)列(lie)印至(zhi)HP-PCL匹配的圖(tu)形印表(biao)機, EPSON相匹配的文字印表(biao)機或直接(jie)通過儀器的網口經局域網列(lie)印.
●待測元件連(lian)接
可(ke)通過面板的(de)BNC接頭來(lai)實現倆端,三(san)端或(huo)四埠的(de)連接以及可(ke)能(neng)的(de)接地(di)狀況.備(bei)有許多的(de)可(ke)選附(fu)件以供不同的(de)測試需要(yao).
●充電電容(rong)保護
高精(jing)密的(de)(de)測(ce)試(shi)儀器可能在使用過程中被(bei)已充電的(de)(de)電容裝置所損(sun)壞,造成(cheng)昂(ang)貴的(de)(de)維修及不必要(yao)的(de)(de)停產. 6500系列(lie)有內(nei)置的(de)(de)保(bao)護來避免這(zhe)種情況發生.
●綜合,**的高(gao)頻測(ce)試
“綜合,**的高(gao)頻(pin)測(ce)試”使該(gai)系列(lie)產品是高(gao)要(yao)求測(ce)試的優良(liang)選擇.
