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高頻LCR測試儀的測試操作方法

   
      高頻LCR測試儀能準確并穩定(ding)(ding)地測定(ding)(ding)各種(zhong)各樣的(de)元件參(can)數,主要是用來(lai)(lai)測試(shi)電(dian)感(gan)、電(dian)容、電(dian)阻的(de)測試(shi)儀(yi)。它具(ju)有功能直接、操(cao)作簡便等(deng)特(te)點,能以較低的(de)預算來(lai)(lai)滿足生產線(xian)質量保證、進貨(huo)檢驗、電(dian)子維修業對(dui)器件的(de)測試(shi)要求(qiu)。
      Vx與Vr均是(shi)矢量電(dian)(dian)壓表,Rr是(shi)理(li)想電(dian)(dian)阻。自平衡電(dian)(dian)橋的意思(si)是(shi):當DUT(Device Under Test)接入電(dian)(dian)路(lu)時(shi),放(fang)大器的負反(fan)饋配置自動使得OP輸(shu)入端(duan)虛地。Vx準確(que)測定DUT兩端(duan)電(dian)(dian)壓(DUT的Low電(dian)(dian)位是(shi)0),Vr與Rr測得DUT電(dian)(dian)流Ix,由此可計算Zx。
      HP4275的(de)(de)測試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標(biao)c代表(biao)current, 下標(biao)p代表(biao)Potentail),Guard(接地)的(de)(de)配置可(ke)導致(zhi)測試的(de)(de)誤差(cha)的(de)(de)差(cha)異(yi)。
      提高精度的(de)(de)方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量(liang)接近DUT; 2,減小測(ce)試電(dian)流Ix的(de)(de)回(hui)路面積&磁通量(liang)(關鍵是分(fen)析(xi)Ix,要配合使用Guard與Cable小化回(hui)路面積);3,使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的(de)(de)電(dian)場連(lian)接,雖然(ran)會增加信號線的(de)(de)對地電(dian)容(對地電(dian)容不影響(xiang)測(ce)試結果),但是會減少(shao)信號線的(de)(de)互(hu)容。
       Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg,Zlg) 不影響測試結果,電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0,流向Rr的電流不會被Zlg分流,Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。