Vx與(yu)Vr均是(shi)矢量電壓表，Rr是(shi)理(li)想電阻。自平衡電橋(qiao)的(de)意思是(shi)：當DUT(Device Under Test)接(jie)入電路時，放大器的(de)負(fu)反(fan)饋(kui)配置自動使(shi)得(de)OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩(liang)端電壓（DUT的(de)Low電位是(shi)0），Vr與(yu)Rr測得(de)DUT電流(liu)Ix，由(you)此可計算Zx。
高頻LCR測試儀HP4275的(de)測試端Hp,Hc,Lp,Lc（下標(biao)c代(dai)表current, 下標(biao)p代(dai)表Potentail)，Guard（接地(di))的(de)配置可導致測試的(de)誤差(cha)的(de)差(cha)異。
高頻LCR測試(shi)儀提高精(jing)度的(de)方法是(shi): 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量(liang)接近DUT; 2,減(jian)小測試(shi)電(dian)(dian)流(liu)Ix的(de)回(hui)路(lu)面積&磁(ci)通量(liang)（關鍵(jian)是(shi)分(fen)析Ix，要配合使用Guard與Cable*小化回(hui)路(lu)面積);3,使用Gurard與Cable構(gou)建地平面中斷信號線(xian)間的(de)電(dian)(dian)場連接，雖然(ran)會(hui)增加信號線(xian)的(de)對地電(dian)(dian)容（對地電(dian)(dian)容不(bu)影響(xiang)測試(shi)結果(guo)），但是(shi)會(hui)減(jian)少信號線(xian)的(de)互(hu)容。
Guard與Cable的對(dui)地寄生阻(zu)抗（Zhg,Zlg) 不影響測(ce)試結果，電(dian)橋(qiao)平衡時Zlg的兩(liang)端電(dian)壓是0，流向Rr的電(dian)流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電(dian)壓測(ce)量。