1J3260B 頻率范(fan)圍：20Hz～3MHz ●頻率(lv)范圍 (20Hz～3MHz) ●0.1%基本(ben)精度（英國(guo)標(biao)準），電(dian)感、變壓器業(ye)界公認*佳標(biao)準儀器 ●四線(xian)式(shi)測試，可**測量極低的Rdc、Rs、L和精準Q ●DC Bias(直流偏壓) *高(gao)可到250A(Option) ●WK3260B內置1A DC Bias可直接畫出磁(ci)飽和曲線(xian)或(huo)多點DC Bias與多點頻率自(zi)動檢測(ce)功能 ●涵蓋各(ge)式測(ce)量(liang)參數(shu)：Z(阻抗)、L(電(dian)感(gan))、C(電(dian)容(rong))、Rac(交流電(dian)阻)、Phase(相位)、Q(品質因數(shu))、D(損耗因數(shu))、Rdc(直流電(dian)阻) 、圈數(shu)比(bi)、漏電(dian)感(gan)和層(ceng)間電(dian)容(rong) ●可透過IEEE488連(lian)線控制(zhi)
測試(shi)夾具選擇
1J1020
1J1022
1J1011
介電(dian)常數測試治具
（40MHz）
液(ye)體介電常數(shu)測試(shi)治具
（30MHz）
二線(xian)制DIP測試治(zhi)具
（120MHz）
1J1012
1J1024
1J1011W
二線制(zhi)SMD測試治具（彈(dan)片型）
二線制(zhi)SMD測試治(zhi)具（探針型）
四線(xian)制DIP 測試治(zhi)具(ju)
(120MHz)
1J1014
1J1015
1J10154
四線制SMD測試治具
二(er)線(xian)制DIP高電流測試治(zhi)具
（125A）
（3MHz）
四(si)線制DIP高電流測試(shi)治具
1J1016
1J10164
1J1023
二線(xian)制SMD高電流測試治具(ju)
四線(xian)制DIP高電流測試治具
四(si)線制(zhi)轉二(er)線制(zhi)高(gao)頻轉接頭(tou)
1J1025
1J1032
1J10324
探針式測量治具
二線制SMD底(di)部電極(ji)測試夾(jia)具
四線制SMD底部電極(ji)測試夾具
1J1026
1J1027
1J1028
二線制DIP高電(dian)流測試治具
（20A）
二線制DIP高(gao)電流測(ce)試治(zhi)具
（40A）
二線(xian)制DIP高電(dian)流測(ce)試治具
（80A）
1J10264
1J10284
1J1036
四線制(zhi)DIP高電(dian)流測試治具
四線制DIP高電流測(ce)試治(zhi)具(ju)
（60A）
二(er)線(xian)制DIP高電流測試治具
（250A）
1J10362
1J1100
1J1031
電容充(chong)放電保(bao)護單元(yuan)
高頻80A SMD 二線式底部接(jie)(jie)觸式轉接(jie)(jie)座
1J1037
1J1001
1J1002
偏置(zhi)電流(liu)夾具適配器
四轉一(yi)測試夾(jia)具
四轉二測試夾(jia)具
1EV1006
1EV1505
1EV1905A
四線式DIP測(ce)試治具(ju)
(1MHz)
四(si)線式測試夾具
(3MHz)
兩線式探針型高頻測試線
(50MHz)
1EV1905X
1EVA40100
1EVA40120
兩線(xian)式探針型高頻測試線(xian)SMD
精(jing)密型測試夾(jia)具(ju)
SMD鑷(nie)子式高(gao)精密測試夾(jia)具(ju)
1EVA40125
1EVA40150
1EVA40180
SMD鑷子(zi)式高精密測試夾具
鑷子(zi)式高精密測試夾具
（尖型）
鑷子式高精密(mi)測試(shi)夾具
（大型）
<dd id='bBxMN'></dd>